詳細(xì)摘要: 涉測量鏡頭可用在非接觸光學(xué)壓型測量設(shè)備上,通過此鏡頭可得到表面位圖和表面測量參數(shù)等。也可用來檢測表面粗糙度,測量精度非常高,在一個波長之內(nèi)。一束光通過分光鏡,可...
產(chǎn)品型號:所在地:無錫市更新時間:2026-09-01 在線留言
無錫市譽榮電子科技有限公司
詳細(xì)摘要: 涉測量鏡頭可用在非接觸光學(xué)壓型測量設(shè)備上,通過此鏡頭可得到表面位圖和表面測量參數(shù)等。也可用來檢測表面粗糙度,測量精度非常高,在一個波長之內(nèi)。一束光通過分光鏡,可...
產(chǎn)品型號:所在地:無錫市更新時間:2026-09-01 在線留言詳細(xì)摘要: 干涉測量鏡頭可用在非接觸光學(xué)壓型測量設(shè)備上,通過此鏡頭可得到表面位圖和表面測量參數(shù)等。也可用來檢測表面粗糙度,測量精度非常高,在一個波長之內(nèi)。一束光通過分光鏡,...
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